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可测试性设计(DFT)

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发表于 2013-3-6 11:05:57 |只看该作者 |倒序浏览
可测试性设计(DFT)的目的是要求产品能在尽可能短的时间里,有效地进行必要的测试。一个设计方案的可测试性是用测试点所覆盖功能的百分比来表示的,但百分之百的覆盖率通常是不可能达到的。试图写下额外的测试矢量,会受到产品的尺寸及其复杂性的制约。
    可测试性开发对产品开发小组来说是件昂贵而又令人头痛的事。由于设计变得越来越复杂,开发测试方案需要越来越多的开发预算资金和时间。对一些公司来说,开发一项能有效测试产品的测试程序要花上半年到一年的时间。反之,如果测试结果不尽人意,将令客户不满,甚至损害公司或产品的形象。因此,DFT正变得越来越重要。
    另外,有个叫松散联系设计的概念也包含在DFT中。根据这个概念,模块可以单独进行有效测试;检查模块的集成,也只要做几个测试就行了。而在紧密联系的设计中,有许多交互作用必须测试,所以不能采用一个有层次的办法,而且紧密联系设计可能需要通过更多的组合和途径来进行测试,这就使综合测试极为耗时或者根本不可能。例如,近期在电视软件开发中,运用松散联系的设计,使测试周期从两到三天减少到两到二个小时。
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